(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210437064.2 (22)申请日 2022.04.20 (71)申请人 城云科技 （中国） 有限公司 地址 310052 浙江省杭州市滨江区长河街 道江南大道588号恒 鑫大厦主楼17层、 18层 (72)发明人 李圣权　严鑫　陶肖寅　 (74)专利代理 机构 杭州汇和信专利代理有限公 司 33475 专利代理师 薛文玲 (51)Int.Cl. G06F 16/215(2019.01) G06F 16/2455(2019.01) (54)发明名称 一种数据校验方法、 系统及电子装置、 可读 存储介质 (57)摘要 本申请提出了一种数据校验方法， 包括： 获 取待处理文件， 为待处理文件配置至少一校验规 则， 其中每一校验规则设有相应的优 先级和预设 样式； 从待处理文件中提取包括至少一待校验数 据的待校验 数据集； 按照每一校验规则的优先级 依次选取校验规则， 根据校验规则遍历校验待 校 验数据集确定不合格待 校验数据， 按照校验规则 的预设样式校正待处理文件中每一不合格待校 验数据。 该方法通过将每个校验规则独立化， 根 据需要为待处理文件指定校验规则的校验顺序， 实现了待处理文件需要使用多个校验规则进行 校验时， 自动查询并修改不 合格的待校验数据。 权利要求书2页 说明书7页 附图2页 CN 114817218 A 2022.07.29 CN 114817218 A 1.一种数据校验方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 获取待处理文件， 为所述待处理文件配置至少一校验规则， 其中每一所述校验规则设 有相应的优先级和预设样式； 从所述待处 理文件中提取包括至少一待校验数据的待校验数据集； 按照每一所述校验规则的优先级依次选取校验规则， 根据 所述校验规则遍历校验所述 待校验数据集确定不合格待校验数据， 按照所述校验规则的预设样式校正所述待处理文件 中每一所述 不合格待校验数据。 2.根据权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， 在 “根据所述校验规则遍历校验 所述待校验数据集确定不合格待校验数据 ”后， 包括： 复制校正后的待处理文件作为对应所 述校验规则的校验结果文件。 3.根据权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， “从所述待处理文件中提取包括 至少一待校验数据的待 校验数据集”包括： 获取至少一目标校验属性， 遍历所述待处理文件 中的所有属性值， 将与任一所述目标检验属性匹配的属性值对应的每一数据作为待校验数 据， 所有所述待校验数据组成待校验数据集。 4.根据权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， “从所述待处理文件中提取包括 至少一待校验数据的待 校验数据集”包括： 获取至少一目标校验区域， 将所述目标校验区域 中的每一数据作为待校验数据， 所有所述待校验数据组成待校验数据集。 5.根据权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， “根据所述校验规则遍历校验所 述待校验数据集确定不合格待校验数据 ”包括： 根据所述校验规则遍历校验所述待校验数 据集中的每一待校验数据， 将不符合所述校验规则的预设样式的待校验数据判定为不合格 的待校验数据。 6.根据权利要求1所述的数据校验方法， 其特征在于， “根据所述校验规则遍历校验所 述待校验数据集确定不合格待校验数据 ”包括： 获取每一所述不合格的待校验数据的位置 信息， 根据所述校验规则的预设样式修改所述待处理文件中每一所述位置信息对应的数 据。 7.根据权利要求1 ‑6任一所述的数据 校验方法， 其特征在于， 所述待处理文件为用户上 传的数据文件或所述数据文件的副本文件。 8.一种数据校验系统， 其特 征在于， 包括以下模块： 获取模块， 用于获取待处理文件， 为所述待处理文件配置至少一校验规则， 其中每一所 述校验规则设有相应的优先级和预设样式； 解析模块， 用于从所述待处 理文件中提取包括至少一待校验数据的待校验数据集； 校验模块， 用于按照每一所述校验规则的优先级依次选取校验规则， 根据所述校验规 则遍历校验所述待校验数据集确定不合格待校验数据， 根据所述校验规则遍历校验所述待 校验数据集确定不 合格待校验数据。 9.一种电子装置， 包括存储器和处理器， 其特征在于， 所述存储器中存储有计算机程 序， 所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7任一所述的数据校验方 法。 10.一种可读存储介质， 其特征在于， 所述可读存储介质中存储有计算机程序， 所述计 算机程序包括用于控制过程以执行过程的程序代码， 所述过程包括根据权利要求1至7任一权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114817218 A 2所述的数据校验方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114817218 A 3