(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123185 516.2 (22)申请日 2021.12.17 (73)专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司 地址 430205 湖北省武汉市东湖新 技术开 发区流芳园南路2 2号 专利权人 武汉精立电子技 术有限公司 (72)发明人 洪志坤　钟凡　洪浩　欧昌东　 郑增强　 (74)专利代理 机构 武汉开元知识产权代理有限 公司 42104 专利代理师 黄行军　高炳龙 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/25(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种光谱测量与成像 探测集成的设备 (57)摘要 本实用新型公开了一种光谱测量与成像探 测集成的设备， 其包括壳体， 所述壳体上包括至 少一个进光口； 所述壳体内设置有至少一个分束 器， 用于将入射光束的光束路径分成至少两个部 分光束路径； 至少一个光谱探头， 至少位于所述 部分光束路径的一个中； 至少一个光学传感器， 至少位于 所述部分光束路径的一个中。 本实用新 型能够在同一工位上实现对显示面板实现光谱 检测和瑕疵缺陷检测， 且结构 简单。 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 CN 216816482 U 2022.06.24 CN 216816482 U 1.一种光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 包括壳体(1)， 所述壳体(1)上包 括至少一个进光口(2)； 所述壳体(1)内设置有 至少一个分束器(3)， 用于将入射 光束(6)的光束路径分成至少两个部分光束路径(7)； 至少一个光谱探 头(4)， 至少位于所述部分光束路径(7)的一个中； 至少一个光学传感器(5)， 至少位于所述部分光束路径(7)的一个中。 2.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 每个进光口 (2)处设置有一个分束器(3)。 3.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述分束器 (3)位于所述 光学传感器(5)和所述进光口(2)之间。 4.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述光谱探头 (4)设置于所述分束器(3)的侧方。 5.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述壳体(1) 内或所述壳体(1)外 设置有光谱处理模块(10)， 所述光谱处理模块(10)与所述光谱探头(4) 连接。 6.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述光谱探头 (4)与所述 光学传感器(5)的中心点相对于所述分束器(3)共 轭布置或非共 轭布置。 7.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述光学传感 器(5)包括 黑白相机传感器芯片。 8.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述光学传感 器(5)包括彩色相机传感器芯片。 9.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述分束器 (3)包括分束镜或平板分束镜 。 10.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备， 其特征在于： 所述分束器 (3)的分光比例包括1： 9或2： 8或3： 7或4： 6或5： 5 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216816482 U 2一种光谱测量与成像探测集成的设 备 技术领域 [0001]本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测设备， 属于显示面板检测设备技术领 域， 具体公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备。 背景技术 [0002]随着技术发展， 显示面板或发光体 的特性评估对产品的特性越来越重要。 常见的 发光体及其显示面板包括LED、 MicroLED、 MiniLED、 LD等， 其组成的产品包括但不限于消费 电子产品、 手机屏幕、 电视 显示器。 [0003]对于配备了发光体及其显示面板的显示产品， 其发光特性的评估对于产品的质量 评价很重要。 上述质量评价指标中最重要的参数包括 发光光谱以及该显示产品在显示区内 是否存在瑕疵和缺陷。 [0004]当显示产品需要进行光谱和瑕疵缺陷检测时， 通常需要分立的光谱仪和工业相机 成像， 在这种情况下， 则需要两个工位实现上述检测， 或者通过移动机构带动显示产品在两 个不同工位之间切换， 分时进行工作。 比如， 第一时刻在第一工位进行光谱测量， 测量完毕 后， 基于移动机构将显示产品移动到相 机下， 基于相 机在第二时刻和第二工位对显示产品 进行成像检测； 上述两种技术方案存在以下技术问题： 1.检测系统复杂度高， 即需要两个检 测工位分别完成光谱测量和缺陷检测； 2.检测耗时长， 特别是当同一个产品需要进行多个 不同显示画面的光谱测量和缺陷检测时， 需要耗费两倍的检测时间。 实用新型内容 [0005]针对现有技术中存在的技术问题， 本实用新型提供了一种光谱测量与成像探测集 成的设备， 其能够 在同一工位上实现对显示 面板的光谱检测 和瑕疵缺陷检测， 且结构 简单。 [0006]本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备， 其包括壳体， 所述壳体 上包括至少一个进光口； 所述壳体内设置有至少一个分束器， 用于将入射光束的光束路径 分成至少两个部 分光束路径； 至少一个光谱探头， 至少位于所述部 分光束路径的一个中； 至 少一个光学传感器， 至少所述部分光束路径的一个中。 [0007]在本实用新型的一种优选实施方案中， 每 个进光口处设置有一个分束器。 [0008]在本实用新型的一种优选实施方案中， 所述分束器位于所述光学传感器和所述进 光口之间。 [0009]在本实用新型的一种优选实施方案中， 所述 光谱探头设置于所述分束器的侧方。 [0010]在本实用新型的一种优选实施方案中， 所述壳体内或所述壳体外设置有光谱处理 模块， 所述 光谱处理模块与所述 光谱探头连接。 [0011]在本实用新型的一种优选实施方案中， 所述光谱探头与所述光学传感器的中心点 相对于所述分束器共 轭布置或非共 轭布置。 [0012]在本实用新型的一种优选实施方案中， 所述光学传感器包括但不限于黑白相机传 感器芯片、 彩色相机传感器芯片。说　明　书 1/3 页 3 CN 216816482 U 3